SEM: Scanning Electron Microscope
Il nostro laboratorio è dotato di un microscopio elettronico a scansione con sorgente Field Emission (FE-SEM ).
La maggior flessibilità di questo tipo di sorgente, rispetto alla sorgente termoionca, permette di lavorare anche a più basse tensioni, preservando i campioni più delicati. Ciò consente, in molti casi, di osservare il campione senza trattamenti superficiali. Inoltre, lo strumento è dotato di camera in pressione variabile (VP), progettata per migliorare la visualizzazione di campioni delicati senza doverne aumentare la conducibilità elettrica con trattamenti che potrebbero determinarne l'alterazione.
La presenza di una sonda EDS Oxford, consente di effettuare micro-analisi elementali mediante raggi X anche su campioni delicati. Ciò rende possibile rilevare la presenza di sali e ossidi sulla superficie del campione, particolarmente utile nella valutazione del processo produttivo o nella rilevazione di difetti o deterioramento del materiale.