Il SEM al servizio
dell'impresa

Il laboratorio di analisi SEM dedicato al settore della meccanica di precisione che ti assiste nel verificare la qualità prodotto e ridurre le non conformità.
Il servizio di

Microscopia Elettronica per l'industria

L'analisi SEM pensata per l'indagine qualitativa

Un servizio rivolto alle aziende che consente di identificare eventuali problematiche di prodotto / processo in tempi brevissimi grazie ad una strumentazione all'avanguardia (FE-SEM), flessibile (Pressione Variabile, sonda EDS Oxford) e competenza, già applicata in ambito di ricerca e in ambito industriale.

Industria

Nell'ispezione di prodotti e materiali per garantire la conformità agli standard di qualità nel settore tessile e meccanico.

Ingegneria

Nell'indagine di microstrutture di materiali utilizzati nell'ingegneria, inclusi campioni di metallurgia e materiali compositi.

Tutte le analisi effettuate portano alla generazione di un report contenente immagini ottenute e la relazione del tecnico che le ha eseguite.

Analisi SEM da 175 €

Compila ora il nostro modulo e lascia che i nostri esperti ti supportino nell'individuare eventuali problemi nascosti all'interno dei tuoi prodotti.

Contatto senza impegno
Quotazione immediata
Data di consegna certa
Tecnologie all'avanguardia

    Sonda EDS

    Analizziamo con alta sensibilità la composizione elementale
    L'analisi SEM con sonda EDS permette di identificare i materiali tramite l'interazione tra il fascio di elettroni e la superficie del campione. L'emissione di raggi X che ne consegue, caratterizzata da frequenze specifiche per ogni elemento, permette di determinare la composizione del materiale.

    La profondità media di analisi è di 1-3 µm, variando in base al campione e al potenziale di colonna.

    L'esame è di particolare interesse per:
    KCSBiotech
    analisi contaminazione superficie
    visualizzazione omogeneità / difetto di trattamento
    visualizzazione corrosione finitura metallica superficiale

    Indaghiamo con precisione

    rottura_fragile_metallo

    Rottura fragile

    La rottura fragile è evidenziata nell’area del metallo vicino ai bordi. Ingrandendo l’area interessata da questa tipologia di rottura è possibile osservare dei tagli netti tra le varie aree del metallo.
    rottura_duttile_metallo

    Rottura duttile e snervamento

    La rottura duttile è invece più graduale. Dalle immagini è possibile osservare come i punti di rottura appaiano “tirati”. Il metallo dunque si deforma pian piano fino a spezzarsi.
    ossidazione_metallo

    Ossidazione

    Un trattamento termico in ambiente ossidante causa una delaminazione di uno strato superficiale che presenta evidenti segni di fragilità, osservati nella rottura del pezzo.
    Le nostre FAQ

    Domande frequenti sull'analisi SEM

    • Restituisce l’aspetto della superficie del campione
    • Produce immagini in bianco e nero
    • Ha una grande profondità di campo: le immagini prodotte hanno aspetto tridimensionale
    • Consente anche un’analisi della composizione a livello di elementi chimici mediante tecnica EDS (spettroscopia dispersiva a raggi X)
    • Non consente di visualizzare l’interno di un campione
    • È una tecnica applicabile a campioni delicati (materiale biologico) e non (metalli, polimeri, materiale minerale)
    • Il dato può essere utilizzato come verifica di trattamenti chimici, meccanici, elettro-meccanici sulla superficie/bordo di taglio di un campione
    • L’analisi SEM consente di determinare alcune cause di rottura o difetto del materiale, distinguendo tra rotture fragili, duttili o snervamento dei metalli
    • È possibile verificare gli effetti superficiali di corrosione ed erosione sia in metalli che in materiali polimerici
    • L’analisi EDS consente di verificare la tipologia di elementi sulla superficie, permettendo di registrare contaminazioni e difformità della composizione chimica della superficie del materiale a livello elementale

    • Solitamente dipende dal materiale: per campioni biologici serve da uno a tre giorni, per campioni minerali, metalli o polimeri è sufficiente un giorno
    • La ricerca e visualizzazione di un punto specifico e l’eventuale analisi EDS può richiedere delle ore
    • I campioni non elettricamente conduttivi devono essere resi sufficientemente conduttivi mediante metodi di ricopertura (sputtering) con oro, platino o grafite

    • Il campione deve essere conduttivo e montato su un porta-campioni adesivo: il campione ideale è grande 1 – 3 mm3 ma è possibile analizzare campioni fino a 5 – 6 cm di lato.
    • Siccome il campione deve essere elettricamente conduttivo, oggetti grandi e poco conduttivi sono meno idonei alla ricopertura e analisi mediante SEM
    • La superficie deve essere quanto più esposta possibile: incavi parzialmente occlusi e bordi a spigolo vivo rendono meno osservabile il campione per effetti di caricamento elettrico: la geometria della superficie del campione può causare disomogeneità zonali di carica elettrica che si osservano come artefatti sulla superficie del campione.

    • Dal campione otteniamo vari segnali in base al percorso che svolgono gli elettroni del fascio che bombarda il campione e alle loro interazioni con il materiale del campione. Principalmente le tipologie di segnale che è possibile rilevare con lo strumento a disposizione sono:
      • Elettroni secondari (SE): sono gli elettroni del campione che interagendo, con quelli del fascio in modo inelastico (con scambio di energia), vengono scagliati fuori dal campione stesso e rilevati dal sensore. Danno immagini topografiche del campione, provenendo da 1 - 5 nm di profondità. Possono essere impiegati per determinare la morfologia della superficie del campione.
      • Elettroni backscattered (BSE): sono gli elettroni del fascio che deflessi in modo elastico (senza scambio di energia) attorno al nucleo degli atomi che costituiscono i primi 10 – 100 nm del campione, tornano indietro e vengono rilevati dal detector. Danno immagini in cui sono contrastati (diversa tonalità di grigi) materiali a diversa densità elettronica (e.g. piombo rispetto a ferro e rispetto a carbonio). Possono essere utili per verificare la composizione delle leghe e l’omogeneità del campione o per trovare le interfacce tra materiali e ingrandirle in dettaglio fino almeno a 50 nm
      • Raggi X (EDS): sono prodotti dall’interazione del fascio elettronico con il campione e rappresentano un modo in cui il campione stesso scarica l’energia proveniente da tutte le reazioni inelastiche con il fascio elettronico. Consentono di determinare quali elementi chimici compongano i primi 1 – 3 µm di profondità della superficie del campione, basandosi sul principio chimico-fisico per cui il numero atomico di ogni elemento determina le interazioni e le lunghezze d’onda dei raggi X da esso emessi. Possono essere impiegati per osservare la composizione chimica elementale di un campione e compararlo con altri materiali, cercare ossidazioni, solfatazioni, alogenazioni e contaminazioni della superficie del campione.

    it_ITItalian